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美國Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè)，適用于RoHS&WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。美國chemplex測(cè)試薄膜-250

美國Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè)，適用于RoHS&WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度6.0 μm，寬7.6cm測(cè)試薄膜-250

美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn)，*的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性，保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性，被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。厚度4.0μ X射線熒光膜

美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn)，*的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性，保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性，被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。XRF測(cè)試薄膜、光譜儀薄膜

美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn)，*的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性，保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性，被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。*樣品杯樣品薄膜TF-135

美國Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè)，適用于RoHS&WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。 XRF實(shí)驗(yàn)室用檢測(cè)薄膜-107